ВЕУК
Восточно-Европейская управляющая компания
 Продукция События О компании Сервис Статьи Контакты 
Главная / Продукция / Подготовка образцов для электронной микроскопии

Leica EM BAF060

Leica EM BAF060

Leica EM BAF060 – система для подготовки образцов (TEM и SEM исследования) методом замораживания-скалывания, дальнейшего травления и последовательного покрытия скола тонким слоем испаренного углерода и металла.

При совместном использовании с Leica EM VCT100, может проводиться репликация образца (для CryoSEM исследований) путем оттенения металлами (термическое испарение металла) и осаждение его в виде слоя на образце.

К функциональным особенностям Leica EM BAF060 можно отнести наличие микротома и двух независимых электронно-лучевых испарителя.

Особенности

Высокая повторяемость,  высокая защита образца

Моторизованный микротом и специальная заслонка, предотвращающая загрязнение, позволяет получать результаты с высокой повторяемостью.

Отсутствие загрязнения образца

Размещение образцов и электронно-лучевых испарителей в одной вакуумной камере позволяет избежать загрязнения образцов.

Высокая точность процесса напыления

Высокая точность процесса напыления пленок без термического повреждения образца.

Совместимость с Leica EM VCT100

Совместимость с вакуумной крио-системой транспортировки Leica EM VCT100 позволяет создать полноценную систему для подготовки крио EM образцов.

Назад

© ВЕУК Разработка сайта Vitrum-Media