ВЕУК
Восточно-Европейская управляющая компания
 Продукция События О компании Сервис Статьи Контакты 
Главная / Продукция / Подготовка образцов для электронной микроскопии

Leica EM TXP

Leica EM TXP

Leica EM TXP - Универсальная система для механической подготовки поверхности

Leica EM TXP - универсальная установка для механической прецизионной подготовки поверхности  образцов зеркального качества для TEM, SEM и LM исследований.

Интегрированный стереомикроскоп с масштабной сеткой и регулировка угла наклона держателя образцов  -  0° - 60° (по отношению к оси вращения фрезы) обеспечивает полный контроль процесса подготовки образца

Особенности

Сенсорная панель управления

Управление всеми параметрами обработки осуществляется с помощью сенсорной панели.

Большое разнообразие инструментов

Система позволяет проводить фрезеровку, резку, шлифовку, полировку без удаления образца из прибора.

 

 

Контроль качества поверхности

После проведения операций по подготовке образца, с помощью встроенного микроскопа можно провести контроль качества полученной поверхности, нет необходимости переносить образец на другой прибор.

Назад

© ВЕУК Разработка сайта Vitrum-Media